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RoHS檢測儀的分析原理:
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通??煞譃閮纱箢?,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長,從而獲得待測元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器,通過測定由探測器收集到的電荷量,直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量:Q=kE
式中,K為入射射線的光子能量;Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比,故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
RoHS檢測儀目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀,又分為能量色散型和波長色散型,能量色散型因其技術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單,現(xiàn)市場上比較常見,其技術(shù)原理:
特征X射線 放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用,逐出原子內(nèi)層電子。當(dāng)外層電子補充內(nèi)層電子時,會放射該原子所固有能量的X射線-特征X射線。
元素含量與特征X射線強度的關(guān)系。
不同元素特征X射線能量各不相同,依此進行定性分析;再根據(jù)特征X射線強度大小,可進行定量分析。
可用函數(shù)關(guān)系式表示為:C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中:Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數(shù),In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度。由此可知只要通過標(biāo)定確定系數(shù)Kn之后便可進行物質(zhì)中元素的定量分析了。
RoHS檢測儀優(yōu)點
1.分析速度高。測定用時與測定精密度有關(guān),但一般都很短,2~5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2.非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,結(jié)果重現(xiàn)性好。
3.X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),這種效應(yīng)更為顯著,波長變化用于化學(xué)位的測定。
4.X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
5.分析精密度高。制樣簡單,固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
RoHS檢測儀缺點
1.難于作分析,故定量分析需要標(biāo)樣。
2.對輕元素的靈敏度要低一些。容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
RoHS檢測儀價格相對其他一些分析儀器較高,所以很多客戶選擇租賃RoHS檢測儀,如果您想了解RoHS檢測儀租賃的價格,咨詢!