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產(chǎn)品名稱:二手電鏡JSM-6510

產(chǎn)品型號:

更新時間:2020-05-31

產(chǎn)品特點:二手電鏡JSM-6510
功能/應(yīng)用范圍:應(yīng)用于無機材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析;材料分析,檢測機構(gòu),研發(fā)企業(yè)。

產(chǎn)品詳細資料:

二手電鏡JSM-6510:主要技術(shù)指標(biāo):

物鏡采用強勵磁設(shè)計――象差小、分辨率高 1.0nm(15kV時) 2.2nm(1kV時) 使其更適合于材料表層和納米材料的觀察  ?能譜儀分析元素范圍4Be`92U,能量分辨率130ev; 技術(shù)特色: 由熱陰極電子槍發(fā)射出的電子在電場作用下加速,經(jīng)過電磁透鏡的作用,在樣品表面聚焦成為極細的電子束,該細電子束在雙偏轉(zhuǎn)線圈的作用下,在樣品表面掃描。 被加速電子束與樣品室中的樣品相互作用,激發(fā)產(chǎn)生各種物理信號,通過對其中某種物理信號的檢測、視頻放大和信號處理,調(diào)制陰極射線管的電子束強度,從而在CRT熒光屏上獲得能反映樣品表面特征的掃描圖象。

二手電鏡JSM-6510  :參數(shù)

1.二次電子像分辨率:1.0nm(15kv)/2.2nm(1kv)

2.背散射電子像分辨率:3nm(15kv,WD=8mm) 

3. EDS分辨率: MnKa小于136eV 4. EDS 元素分析范圍:B5-U92 儀器主要附件:

1.背散射電子探頭

2.英國OXFORD公司INCA EDS 樣品要求:低放氣;導(dǎo)電(非導(dǎo)電體需要噴金處理);直徑小于20mm,高度低于10mm能牢固固定 ? 二次電子分辨率:1.0nm(加速電壓15kV)?2.2nm(加速電壓1kV)? 放大倍數(shù):低倍:×25-×19000 高倍:×100-×650000 ? 樣品臺尺寸:ф12.5-ф26mm? 試樣移動范圍: X范圍:0-70mm Y范圍:0-50mm Z范圍:1.5-25mm(連續(xù)旋轉(zhuǎn)) 角度360° 傾斜:-5-60° 加速電壓:0-20kV? 電流:0-15mA? 掃描模式:SEI,COMPO

一、技術(shù)指標(biāo):
二次電子分辨率:1.0nm(加速電壓15kV) 2.2nm(加速電壓1kV)
放大倍數(shù):低倍:×25-×19000
          高倍:×100-×650000
樣品臺尺寸:ф12.5-ф26mm
試樣移動范圍:X范圍:0-70mm
              Y范圍:0-50mm
              Z范圍:1.5-25mm(連續(xù)旋轉(zhuǎn))角度360°
              傾斜:-5-60°
加速電壓:0-20kV
電流:0-15mA
掃描模式:SEI,COMPO
二、技術(shù)特點:主要特點為冷場發(fā)射電子槍,強勵磁圓錐透鏡 ,高度集成化和自動化。
三、主要用途:主要用于納米材料顯微結(jié)構(gòu)、尺寸分析 ,材料微結(jié)構(gòu)、相組成及相分布分析 ,材料中元素定性分析、定量分析、線分析、面分析、材料失效分析。

 

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