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產(chǎn)品名稱:二手SEM日立TM3030plus

產(chǎn)品型號(hào):

更新時(shí)間:2021-01-15

產(chǎn)品特點(diǎn):二手SEM日立TM3030plus日立臺(tái)式電鏡TM3030Plus,是日立臺(tái)式電鏡TM系列的成員,它繼承了日立臺(tái)式電鏡的品質(zhì)。TM3030Plus在TM3030基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量,而且無需樣品前處理.

產(chǎn)品詳細(xì)資料:

日立臺(tái)式電鏡TM3030Plus

二手SEM日立TM3030plus產(chǎn)品介紹:

  TM3030Plus是日立臺(tái)式電鏡TM系列的成員,它繼承了日立臺(tái)式電鏡品質(zhì)。TM3030Plus在TM3030基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量,而且無需樣品前處理,放大倍數(shù)可達(dá)6萬倍,數(shù)字放大可達(dá)24萬倍。

 

主要參數(shù):

1.放大倍率:×15~60,000

2.設(shè)定觀察條件:5KV/15KV/EDX

3.觀察模式:導(dǎo)體模式、標(biāo)準(zhǔn)模式、減電荷模式

4.檢測器:高靈敏度半導(dǎo)體四分割BSE探測器、低真空二次電子探測器

5.電子槍:預(yù)對(duì)中燈絲

 

二手SEM日立TM3030plus應(yīng)用領(lǐng)域:

生命科學(xué)

材料科學(xué)

化學(xué)

電子制造

食品工業(yè)


方案優(yōu)勢
低加速電壓成像在掃描電鏡成像中有著重要的作用。采用低加速電壓成像,低能電子束受到散射的擴(kuò)散區(qū)域小,相互作用區(qū)接近表面,有利于表面精細(xì)形貌成像。對(duì)于某些熱敏或?qū)щ娦阅懿畹臉悠?,如半?dǎo)體和器件、合成纖維、濺射或氧化薄膜、紙張、動(dòng)植物組織、高分子材料等,有時(shí)不允許進(jìn)行導(dǎo)電處理,而要求直接觀察,采用低加速電壓成像可以減小或消除此類樣品的荷電效應(yīng)同時(shí)減小電子束輻照損傷。下圖為氧化鋅樣品在5KV 和15KV 下的圖像對(duì)比,由圖像可知,在5KV 低加速電壓下,樣品表面細(xì)節(jié)特征清晰,有利于表面精細(xì)形貌的觀察。

 

帶有SwiftED3000的TM3000/TM3030的典型配置
*內(nèi)置EDX探測器

特點(diǎn)

  • 硼以上輕元素檢測。

  • 可進(jìn)行線掃描,面分布圖以及多點(diǎn)分析。

  • 無需液氮。可在幾分鐘內(nèi)快速,輕松分析。

  • 可在同一顯示器上顯示圖像和元素?cái)?shù)據(jù)。

規(guī)格

項(xiàng)目

說明

探測器類型硅飄移探測器(SDD)
能量分辨率154電子伏特(Cu-Kα)
(相當(dāng)于135電子伏特的Mn-Kα)
探測元素范圍B5 - Am95
定性分析自動(dòng)識(shí)別和手動(dòng)峰值識(shí)別
定量分析無標(biāo)樣定量分析
 

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