產(chǎn)品名稱(chēng):二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2022-03-24
產(chǎn)品特點(diǎn):二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡是電子顯微鏡的一種,掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀(guān)形貌觀(guān)察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀(guān)成像,廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析??梢杂^(guān)察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征。
產(chǎn)品詳細(xì)資料:
二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡技術(shù)特點(diǎn):
1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力,1kv分辨率可達(dá)1.3nm
2. 日立ExB設(shè)計(jì),不需噴鍍,可以直接觀(guān)測(cè)不導(dǎo)電樣品
3. 配置Lower、Upper和Top三個(gè)Everhart-Thornley型探測(cè)器
4. Upper和Top探頭均可選擇接受二次電子像或背散射電子像
5. 可以根據(jù)樣品類(lèi)型和觀(guān)測(cè)要求選擇打開(kāi)或關(guān)閉減速功能
6. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器,物鏡光闌具有自清潔功能
7. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶(hù)自行完成
二手高分辨率場(chǎng)發(fā)射電鏡詳細(xì)介紹
高分辨冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 日立掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設(shè)計(jì),卻能達(dá)到超高分辨率,可以與內(nèi)透鏡UHR掃描電鏡相媲美。
特點(diǎn):
1. 新型物鏡采用設(shè)計(jì)。使用單檢測(cè)器和超級(jí)ExB可以分別收集和分離單純 二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號(hào)。
2. 1KV低加速電壓時(shí)保證有2.0nm的分辨率。
3. 兩種樣品臺(tái)可選:I型50mm x 50mm小樣品臺(tái)或Ⅱ型110mm x 110mm大樣品臺(tái)。
4. 包括渦輪分子泵在內(nèi)的*進(jìn)的真空系統(tǒng)。
5. 便于用戶(hù)使用的、基于圖形用戶(hù)界面的控制系統(tǒng),包含多種自動(dòng)功能,
操作簡(jiǎn)易性能指標(biāo): 二次電子分辨率 1.0nm (15kV) 2.0nm (1 kV) 1.4nm (1 kV,減速模式)
電子槍 冷場(chǎng)發(fā)射電子源
加速電壓 0.5~30kV(0.1KV/步,可變)
放大倍率 x 20~ x 800,000
物鏡光闌 4孔,真空外選擇和調(diào)校(內(nèi)置加熱器)
檢測(cè)器 二次電子檢測(cè)器 (高位/低位) 背散射電子檢測(cè)器(可選) EDX(可選) 透射電子檢測(cè)器(可選) 法拉第杯(可選)
樣品臺(tái) l型: X: 0~50mm Y: 0~50mm Z:1.5~30mm T: -5°~70°R:360°
驅(qū)動(dòng):手動(dòng)(可選3軸/5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)) ll型: X: 0 ~110 mm Y: 0 ~110mm Z: 1.5 ~40 mm T: -5°~ 70° R: 360°驅(qū)動(dòng): 5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)
操作/顯示 操作系統(tǒng): WindowsTM XP
圖像儲(chǔ)存 640 x 480, 1,280 x 960, 2,560 x 1,920,5,120 x 3,840
離子泵 3 臺(tái) 渦輪分子泵(磁浮型) 1 臺(tái) 機(jī)械泵 1 臺(tái)
場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的案例分析
實(shí)例一:客戶(hù)要求對(duì)LED熒光填充物進(jìn)行成分分析
實(shí)例二:客戶(hù)需對(duì)碳納米管和石墨烯進(jìn)行SEM形貌觀(guān)察
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